- 說明
- 規格
- 優點與應用
在實際的開發和質量控制應用中，Palas®的MFP過濾材測試台已經在世界各地經過多次驗證。
MFP Nanoplus專門設計用於根據DIN EN 1822-3和ISO 29463-3法規中精確測定HEPA和ULPA過濾材的分離效率。
U-SMPS形式、現代且功能强大的奈米顆粒測量設備可用於5 nm到1 µm間粒徑範圍測量和量化分析。
借助氣溶膠產生器UGF 2000，可以用DEHS或鹽類（NaCl / KCl）來產生與MMPS範圍相匹配的標準氣溶膠分布。
由於採用可移動式的稀釋器，因此可以在非常短的時間内將測試設備從使用鹽霧產生器替換為油霧產生器，而無需清洗。
測試序列的高度自動化設置以及清晰定義的單個组件和過濾器測試軟體FTControl的可單獨調整程序相结合，共同提供高度可靠的測量結果。
MFP 過濾材測試台是用於平面過濾材和小型微型過濾器的模組化過濾器測試系統。
MFP 系統可用於確定：無粉塵塗層濾材上的壓力損失曲線，餾分分離效率，負荷測試施加過程中的負荷分離效率，重量分離效率。
我們的 品質細節
1.使用UGF 2000產生多種類氣溶膠，例如使用KCl/NaCl或DEHS。內含的矽膠乾燥長管。通過質量流量控制器單獨調節產生的氣雾體積流量。
2.氣溶膠中和：Kr 85-370 / X-ray射線(XRC) / 電暈放電（可選）：可調節離子流以適應不同質量流量。可調混合空氣，流入速度為1.5至40厘米/秒。通過質量流量控制器實現觀察和控制。
3.可移動的氣動過濾材支架，用於快速拆卸和裝載測試裝置。
4.可移动的稀釋器：這種稀釋器可以按規定的10、100、1,000和10,000倍數對所施加的測試產生氣進行固定的稀釋。替換鹽霧產生器或油霧產生器時，無需長時間或複雜地清潔系统。
5.用於奈米顆粒量測的U-SMPS
Palas®過濾材測試軟體FTControl控制U-SMPS並評估數據。
將氣溶膠分布調整到MPPS範圍
通過適當調整溶液濃度，可以将產生出來的顆粒物粒徑分布與MFP Nano plus中的相關MPPS範圍匹配。
圖1：使用DEHS調整所需MPPS範圍的粒徑
圖2：比較140 nm粒徑MPPS範圍内的餾分分離效率
• 清晰展示整個測量範圍内過濾材的分離效率
• 精確測定MPPS範圍
• 最高的測量重現性和可重複性突出顯示分離效率的微小差異
• 優化的應用程序将每次分離效率測量的測量時間縮短到6分鐘左右
• 分離效率曲線的簡單比較，也可以計算平均值
自動化：
MFP Nano Plus含有質量流量控制器，可用於控制體積流量；可以通過FTControl過濾材測試軟體自動監視和控制這些流量。在過濾材測試期間，還會自動記錄傳感器數據，例如過濾材流量和壓差。在没有使用稀釋係數與分離效率（10、100、1,000或10,000）相匹配的過濾材情况下進行上游端測量。然後，在不稀釋並插入過濾材的情况下進行下游端測量。稀釋係數的改變是自動執行的。
稀釋係數的驗證：
在MFP Nano plus中的稀釋系统的工作原理與採用噴射原理的VKL系列相同。 這種稀釋器的優點是傳輸過程清晰、污染程度低而且容易清洗。
圖3：將上游端/下游端與10倍NaCl顆粒進行比較來驗證稀釋係數
• 使用MFP Nano plus，可以在MPPS範圍内以及整個測量範圍内進行餾分分離效率測量。 另外，在相關的流入速度下，清楚地確定濾材相關壓力損失。
