- 說明
- 規格
- 優點與應用
在實際的開發和質量控制應用中，Palas®的MFP過濾材測試台已經在世界各地經過多次驗證。
MFP Nanoplus 4000專門設計用於根據DIN EN 1822-3和ISO 29463-3法規中精確測定HEPA和ULPA過濾材的分離效率。
U-SMPS形式、現代且功能强大的奈米顆粒測量設備可用於5 nm到1 µm間粒徑範圍測量和數值分析。
使用MFP Nanoplus 4000和UF-CPC冷凝粒子計數器在上游端和下游端中即時測量特定粒徑的分離效率。
MFP Nanoplus 4000餾分分離效率的即時測量具有以下特殊優勢：
• 通過測量上游和下游端中的顆粒濃度，可將確定餾分分離效率的測量時間减半。
• 結合兩種UF-CPC版本，UF-CPC在上游中的最高測量濃度可达2,000,000顆粒/立方厘米（單計數模式），而UF-CPC 50在下游低濃度下的最高計數率對應於稀釋係數為1：200。因此，不再需要常規的氣溶膠稀釋器。
借助氣溶膠產生器UGF 2000，可以用DEHS或鹽類（NaCl / KCl）來產生與MMPS範圍相匹配的標準氣溶膠分布。
測試序列的高度自動化設置以及清晰定義的單個组件和過濾器測試軟體FTControl的可單獨調整程序相结合，共同提供高度可靠的測量結果。
MFP 過濾材測試台是用於平面過濾材和小型微型過濾器的模組化過濾器測試系統。
MFP 系統可用於確定：無粉塵塗層濾材上的壓力損失曲線，餾分分離效率，負荷測試施加過程中的負荷分離效率，重量分離效率。
我們的 品質細節
1. 使用UGF 2000產生多種類氣溶膠，例如使用KCl/NaCl或DEHS。內含的Nafion乾燥管。通過質量流量控制器單獨調節產生的氣霧體積流量。
2. 氣溶膠中和：Kr 85-370 / X-ray射線(XRC) / 電暈放電（可選）：可調節離子流以適應不同質量流量。可調混合空氣，流入速度為1.5至40厘米/秒。通過質量流量控制器實現觀察和控制。
3. 可移動的氣動過濾材支架，用於快速拆卸和裝載測試DEMC 2000（差分電遷移率分類器）的試驗台。 U-SMPS包含的DEMC 2000（差分電遷移率分類器）對UGF 2000產生的多分散氣溶膠粒徑
進行分類。在DEMC 2000的下游儘包含單分散顆粒。DEMC 2000自動調節相關粒徑控制組件。
4. 使用UF-CPC 200進行高濃度上游端測量。為了測量上游中的顆粒數，UF-CPC 200冷凝粒子計數器在單計數模式下被用於測量濃度高達2,000,000个顆粒/立方厘米的顆粒。
意味著在極高濃度上游測量中不需要稀釋系統。無需長時間或複雜地清潔系統。
5. 使用UF-CPC 50對低濃度下游端數值分布測量“全流量”UF-CPC 50，針對下游中的低濃度（單計數模式，最大10,000个顆粒/ cm3）進行了優化。
在UF-CPC的“全流量”顆粒測量中,對整個採樣體機流量進行了全面分析。意味著在下游中低濃度下可以實現很高的計數率。
Palas®過濾材測試軟體FTControl控制U-SMPS並評估數據。
將氣溶膠分布調整到MPPS範圍
通過適當調整溶液濃度，可以将產生出來的顆粒物粒徑分布與MFP Nano plus中的相關MPPS範圍匹配。
圖1：使用DEHS調整所需MPPS範圍的粒徑
圖2：比較140 nm粒徑MPPS範圍内的餾分分離效率
• 清晰展示整個測量範圍内過濾材的分離效率
• 精確測定MPPS範圍
• 最高的測量重現性和可重複性突出顯示分離效率的微小差異
• 優化的應用程序将每次分離效率測量的測量時間縮短到6分鐘左右
• 分離效率曲線的簡單比較，也可以計算平均值
自動化：
MFP Nano plus 4000具有質量流量控制器，用於控制體積流量；可以通過FTControl濾材測試軟體進行自動監視和控制。
在過濾材測試期間，還會自動記錄傳感器數據，例如過濾材的體積流量和壓差。
驗證上游和下游中的採樣是否合格：在初始培訓過程中，將演示未經過濾的上游和下游測量符合性驗證。
使用MFP Nano plus 4000，可以在MPPS範圍内以及整個測量範圍内進行餾分分離效率測量。另外，在相關的流入速度下清楚地確定濾材的相關壓力損失。
