粉塵是在粉末、散裝物料、顆粒、顆粒等的生產、輸送及填充過程中產生的。這些灰塵可能對職業安全及生產可靠性產生負面影響。此外，塵埃污染環境，對產量損失造成相當大的影響。防止不想要的塵埃的第一步是測量自由落體及撞擊後塵埃的形成。DustView II 是一款全自動塵埃測量系統，能快速且精確地測量自由落體及撞擊後產生的微小塵埃比例。使用 DustView II 可以快速、清晰且具重複性地判斷個別塵埃形成行為，使系統在粉末品質保證中應用更為出色。

樣本（通常為30克散裝物料）會倒入樣本漏斗中。測量開始時，閥門自動打開，樣本會掉入塵埃儲存槽。測量從閥門開啟後立即開始。
塵埃會散布在儲層中。產生的塵埃會使雷射光束衰減（消光測量）。此衰減在測量過程中被觀察到，並被分類為塵埃值介於0至100之間（0 = 雷射光束因塵埃產生而無衰減）， 也就是說，儲液槽中只有少量塵埃分餾，100 = 雷射光束因塵埃完全衰減 開發。）

塵埃值隨時間變化，顯示雷射光束相對於0值的衰減（= 無衰減）。0 值會在每次測量前自動確定，且沒有灰塵（校正）。測量結束時，資料會自動被儲存。
塵埃數值（STZ）包括最大塵埃值及達最大塵埃值後30秒所示的塵埃值：塵埃數（STZ）= 最大值 + 30秒值

延伸

測量完成後，結果會直接顯示在裝置上，並以數值及時間序列的形式呈現。結果的自動儲存使得無需額外電腦即可分析先前測量數據。
系統允許以 PDF 或文字檔形式建立報告。此外，報告可立即使用印表機列印。
除了分析個別測量外，DustView II 韌體還能比較多達十項測量數據。上述報告建立選項也在此處提供。多次測量也能透過串聯測量選項輕鬆且快速地平均。
同時也包含用於外接電腦測量分析的評估軟體。
DustView II 測量裝置是在 AIF Pro INNO II 研究計畫中開發的 （KF 0295803WZ8）與貝吉申大學合作 伍珀塔爾，教授-博士E. Schmidt 於 2008 年及 2010 年期間。

特殊優點
關於散物料塵埃行為的高資訊含量
處理粉狀物品時的理想品質保證工具
基於CIPAC MT 171.1的DustView II
全自動化且可重複的測量流程
全自動控制與評估，使用機載電腦，無需外接電腦
使用觸控螢幕操作簡單直覺
快速測量過程（40秒）
緊湊且便攜的裝置
多項測量比較
個別測量/序列測量
報告的建立格式為 PDF、文字檔或列印資料
透過自動偏移調整進行自我校正
自動內部服務訊息
網路相容性
低維護