Palas®掃描電遷移率粒徑譜儀的準確和可靠性得到驗證
2023活動訊息
03 - 11，2022
Palas®掃描電遷移率粒徑譜儀的準確和可靠性得到驗證
Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀通過中量院和ECAC檢測
隨著奈米領域的不斷發展，奈米顆粒在光學、電學、生物、環境等科研項目中備受關注。氣溶膠粒子的差分電遷移率分級與分析，被應用於環境監測領域奈米
到微米的氣溶膠粒子測量中，基於其簡單的物理原理，而成為氣溶膠領域的重要组成部分，如氣溶膠儀器、基於氣溶膠的材料生產、半導體工業污染控制、
大氣氣溶膠、工程化奈米粒子表徵等。同時，帶電粒子的電遷移率分級可生成粒徑可知的單分散粒子，以用於校準其他儀器。
近日，Palas® SMPS 掃描電遷移率粒徑譜儀通過了中國計量科學研究院的檢測認定，並獲得了其頒發的校準證書。早前SMPS在歐洲氣溶膠校準表徵中心（ECAC）
檢測機構TROPOS的測是結果同樣顯示了優異的各機台差/平行性數據。該實驗室的結果再次證明Palas®掃描電遷移率粒徑譜儀的準確和可靠性。
定徑和計數準確
此次中國計量科學研究院的校準参照JJF 1864-2020氣溶膠粒徑譜儀校準規定，分别從粒徑測量示值誤差、顆粒技術效率和計數重複性多個校準項目進行檢測。
以測量粒徑測量示值誤差為例：SMPS 的標準值為72.1nm，所測量到的值是74.989nm，示值誤差在4.0%。顆粒計數效率方面：SMPS 的標準值為1014个/cm3，
所測量到的值是1010個/cm3，計數效率為99.6%。如下圖所示，中國計量院校準結果報告證明了Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀的兩個特點：
1. 定徑準確；2. 計數準確。
優異的各機台間差/平行性
早前SMPS在歐洲氣溶膠校準表徵中心（ECAC）檢測機構TROPOS的測是結果同樣顯示了優異的各機台差/平行性數據。如下圖所示，帕剌斯送檢的10套儀器
線性均<±5%，符合且優於CEN/TS 16976標準。Palas®能夠為客户提供規範、穩定、優良的服務，為科研和質量控制等領域提供保障。
符合規範的儀器品牌
Palas®產品可滿足JJF 1562—2016《凝结核粒子計數器校準規範》、JJF 1800—2020《氣溶膠光度計校準規範》、ISO 15900:2009《 氣溶膠顆粒粒徑分布的測量
差分電遷移法》，JF 1864-2020《氣溶膠粒徑譜儀校準規範》等相關規範要求來協助計量檢測專家完成顆粒物檢測設備的校準。
Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀已被計量院用於呼吸防護過濾效率測試儀的校準和測試等，為各種檢測校準任务提供技術支持。
SMPS 掃描電遷移率粒徑譜儀
Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀，採用奈米顆粒測量系統，可測量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布，可以提供穩定的粒徑分析和計數功能的同時，
原始通道高達256個，能夠實現高粒徑分辨率。SMPS全系列多组合符合不同濃度、粒徑分布範圍的氣溶膠分析需求，優點多多。例如，它可靈活搭載
預處理裝置（如稀釋裝置等），且其操作界面為桌面式設計，簡便易學。憑藉其開放式數據文件，可讀取和分析數據，實現自檢測和校準。
此外，它具備的靈活性和兼容性，可以與市場主流計數器兼容。
Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀通過中量院和ECAC檢測
隨著奈米領域的不斷發展，奈米顆粒在光學、電學、生物、環境等科研項目中備受關注。氣溶膠粒子的差分電遷移率分級與分析，被應用於環境監測領域奈米
到微米的氣溶膠粒子測量中，基於其簡單的物理原理，而成為氣溶膠領域的重要组成部分，如氣溶膠儀器、基於氣溶膠的材料生產、半導體工業污染控制、
大氣氣溶膠、工程化奈米粒子表徵等。同時，帶電粒子的電遷移率分級可生成粒徑可知的單分散粒子，以用於校準其他儀器。
近日，Palas® SMPS 掃描電遷移率粒徑譜儀通過了中國計量科學研究院的檢測認定，並獲得了其頒發的校準證書。早前SMPS在歐洲氣溶膠校準表徵中心（ECAC）
檢測機構TROPOS的測是結果同樣顯示了優異的各機台差/平行性數據。該實驗室的結果再次證明Palas®掃描電遷移率粒徑譜儀的準確和可靠性。
定徑和計數準確
以測量粒徑測量示值誤差為例：SMPS 的標準值為72.1nm，所測量到的值是74.989nm，示值誤差在4.0%。顆粒計數效率方面：SMPS 的標準值為1014个/cm3，
所測量到的值是1010個/cm3，計數效率為99.6%。如下圖所示，中國計量院校準結果報告證明了Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀的兩個特點：
1. 定徑準確；2. 計數準確。
優異的各機台間差/平行性
早前SMPS在歐洲氣溶膠校準表徵中心（ECAC）檢測機構TROPOS的測是結果同樣顯示了優異的各機台差/平行性數據。如下圖所示，帕剌斯送檢的10套儀器
線性均<±5%，符合且優於CEN/TS 16976標準。Palas®能夠為客户提供規範、穩定、優良的服務，為科研和質量控制等領域提供保障。
符合規範的儀器品牌
Palas®產品可滿足JJF 1562—2016《凝结核粒子計數器校準規範》、JJF 1800—2020《氣溶膠光度計校準規範》、ISO 15900:2009《 氣溶膠顆粒粒徑分布的測量
差分電遷移法》，JF 1864-2020《氣溶膠粒徑譜儀校準規範》等相關規範要求來協助計量檢測專家完成顆粒物檢測設備的校準。
Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀已被計量院用於呼吸防護過濾效率測試儀的校準和測試等，為各種檢測校準任务提供技術支持。
SMPS 掃描電遷移率粒徑譜儀
Palas® SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀，採用奈米顆粒測量系統，可測量4nm到1200nm的氣溶膠粒徑分布，可以提供穩定的粒徑分析和計數功能的同時，
原始通道高達256個，能夠實現高粒徑分辨率。SMPS全系列多组合符合不同濃度、粒徑分布範圍的氣溶膠分析需求，優點多多。例如，它可靈活搭載
預處理裝置（如稀釋裝置等），且其操作界面為桌面式設計，簡便易學。憑藉其開放式數據文件，可讀取和分析數據，實現自檢測和校準。
此外，它具備的靈活性和兼容性，可以與市場主流計數器兼容。
