Palas®重新定義奈米測量
Palas® U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀提供精準的超细顆粒檢測和評估
無論是室内還是室外，空氣質量的評估、治理和改善工作需要可靠的儀器加持。由Palas® 研發的U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀，集奈米測量、操作靈活便捷、監測結果精準等諸多優點於一身，
適用於多種研究場景，可以有效測量和評估空氣污染程度。為監測污染物排放和空氣質量，研究人員選擇了U-SMPS在港口和機場進行超细顆粒物監測。
Palas®超细粉塵和奈米顆粒監測
研究人員使用Palas® U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀在港口進行了輪船顆粒物的排放監測。得益於U-SMPS直觀的界面和含有數據紀錄器的設備，可通過TeamViewer®，Windows等進行遠程控制。
大大的方便了研究人員的監測過程，從輪船開出的時間開始監測，輔以數據展示了U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀在顆粒物總濃度奈米顆粒物監測方面的突出優勢。
研究人員還在機場進行了超细顆粒物監測，監測的位置在機場航站樓距離飛機起降跑道400m的位置，在一般監控的範圍（可見空中交通）監測了平均顆粒物粒徑和顆粒物總濃度。
U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀監測到的顆粒物活動範圍可追溯。
精準數據，具備可比性
在兩组應用案例中，Palas® U-SMPS體現了高粒徑分辨率（120通道/十倍粒徑）的優勢，通過使用系统软件PDAnalyze，一鍵自動保存數據無需外部數據記錄系统和無需額外同步設備時間，
使顆粒物水平的變化清晰可見。同時可以自動合併粒徑分布圖，得到直觀的數據結果。
顆粒物監測專家Palas®的奈米設備擁有業内先進的測量技術，市面上單純的光學監測器只能測量到大於120nm以上的顆粒，而U-SMPS組合粒徑分布為4nm至 40,000nm。
Palas® U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀可靠的監測結果可與校準中心（TROPOS，萊比錫）媲美。儀器結合了準確可靠的粒徑分析和計數功能，可提供靈活監測設備。
Palas®智能解决方案和緊密的客户關係為傳統粒徑分析市場打開大門。
Palas® U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀
產品優勢
粒徑分布從4 nm到1,200nm
連續和快速掃描測量原理
高分辨率，最多256通道（128通道/十倍粒徑）
適用於高達108顆粒/cm3的濃度
可連接其他製造商的DMA和奈米粒子計數器
圖形顯示測量值
直觀操作，使用7英寸觸控螢幕和GUI
內含有數據記錄儀
支持多種接口和遠程控制
應用領域
過濾測試
氣溶膠研究
環境與氣候研究
吸入實驗
室内和工作場所測量
